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超高功率熱測試模組(Super High-Power TTV for OAM)
- 高功率AI伺服器與GPU/DPU的結構測試
- 超高功率密度可達500 W/cm²
- 水冷式冷卻系統水冷板(Cold Plate of OAM)/散熱器鰭片(Heatsink)的測試專用
- 取代AI晶片高成本
| 尺寸A (mm) | 尺寸B (mm) | 電壓 (V) | 最大功率密度 |
|---|---|---|---|
| 30×30 | 20–30 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 40×40 | 30–40 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 50×50 | 30–50 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 60×60 | 40–60 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 80×80 | 50–80 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 100×100 | 60–100 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
專為新一代AI伺服器與GPU/DPU新一代結構測試設計
模擬高功率熱效應,提升簡約設計效率
超高功率熱測試模組(Super High-Power TTV for OAM)是一款高效專為模擬高速運算的GPU、AI晶片與CPU的開放模組(OAM)熱效應而設計的先進測試工具。產品能夠精準模擬高達500 W/cm²的功率密度,為冷卻系統的設計與測試提供、節能的解決方案,專用於水冷卻系統/浸沒冷卻系統的測試需求。完美加速式結合GPU、AI晶片與CPU的開放模組(OAM))水冷板(OAM冷板)/ 本產品透過模擬高效能記憶體的熱負載,提供精確的散熱片測試環境,幫助企業在開發散熱解決方案時取得開發先機,為主機板及機櫃業者開發時效。
AI人工智慧正在徹底改變一系列應用,對機器學習(ML)、深度高效學習(DL)、效能消耗(HPC)和雲端資料中心各種硬體加速器產生了需求。多數方法都具有需要電源、散熱和可維護性的強大解決方案。這款熱測試模組設計考慮了最新開放加速模組(OAM ) )的技術需求,相容於多種PCB佈局,能夠快速整合到現有的測試平台中。它是實驗室和企業在開發新型散熱技術時的理想工具,特別適用於進行水冷式及散熱片+浸沒式冷卻系統的有效驗證。
產品特性:
- 超高功率密度模擬:功率密度高達 500 W/cm²,精準對應AI晶片與HPC裝置熱負載。
- 無論您設計的是冷板、根本還是完整的冷卻系統,這款 TTV 都能讓您更快、更聰明地進行創新。
- 水(液)冷式冷卻系統/浸沒式冷卻系統測試專用:專門設計用於水(液)冷式冷卻系統的性能測試,提供溫度控制,確保測試結果的可靠性。
- 溫度保護功能:超高功率熱測試模組(Super High-Power TTV for OAM)提供溫度偵測回饋方案,當無法能力不足時能及時做出反應,暫停避免測試損壞測試設備。
產品優勢:
- 模擬超高功率AI晶片與CPU熱效應:真正再現高功率晶片加速模組(OAM)在可運作中的熱行為,為加速模組(OAM)的水冷卻系統散熱器元件(冷卻元件)或冷板(冷板)的散熱器功效設計提供可靠的依據。
- 可客製化多區段熱點控制,更加精細模擬大型高功率晶片。
- 節省成本:以電熱片模擬高價AI晶片的熱效應,降低實驗室測試的成本,避免昂貴的實體晶片損壞。
- 爭取開發時程及商機:主機板及機櫃業者可在尚未取得AI晶圓時加速冷卻系統的開發與驗證週期,並搶佔市場先機。

多區段熱點控制TTV
應用場景
- GPU/OAM模組熱足以驗證。
- AI伺服器、DPU平台熱負載測試。
- 主機板廠商冷卻模組開發階段模擬測試。
- 評估不同的電路板佈局和冷卻設計。
- 冷板開發:優化OAM模組的冷板和強大設計。
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技術標準
功率密度:高達500 W/cm²
冷卻系統:支援水冷冷卻系統/浸沒式冷卻系統

| 尺寸A (mm) | 尺寸B (mm) | 電壓 (V) | 最大功率密度 |
|---|---|---|---|
| 30×30 | 20–30 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 40×40 | 30–40 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 50×50 | 30–50 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 60×60 | 40–60 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 80×80 | 50–80 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
| 100×100 | 60–100 | 50–600 | 500瓦/平方厘米 |
TTV超高功率節能型熱測試晶片進行高功率密度、高精度溫度控制及功能應用特性,成為冷卻系統測試中的創新利器。不僅能取代處理器的高昂費用,還能在整個開發時程,推動企業在競爭激烈的市場中激勵。立即聯絡我們,獲取更多資訊或訂購詳情!
常見問題 (FAQ) – 高功率熱測試晶片 (TTV)
1. 什麼是高功率 TTV?為什麼它很重要?
高功率熱測試晶片 (Thermal Test Vehicle, TTV) 是一種模擬工具,可複製高性能晶片 (如 CPU、GPU、AI 加速器) 的發熱行為。與實際功能晶片不同,TTV 能在不冒險損壞昂貴晶片的情況下,提供精準且可重複的熱測試,幫助工程師驗證散熱技術 (冷板、CDU、浸沒式冷卻) 的效能與可靠性。
2. 哪些產業最需要使用 TTV?
TTV 已廣泛應用於需要處理極高熱負載的產業,包括:
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浸沒式冷卻櫃製造商— 測試整櫃效能、泵浦、壓縮機及控制系統。
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液冷 / CDU 與冷板供應商 — 驗證冷卻液分配、流量控制及冷板效能。
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半導體封裝與 IC / 系統設計商— 分析晶片內部局部高熱點,測試材料導熱性及高達 1925 W/cm² 的熱密度。
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CPU/GPU 製造商 (AMD、NVIDIA) — 模擬單顆晶片 7,500–20,000 W 的發熱需求,避免實際晶片的熱失效。
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伺服器與機櫃系統供應商 — 驗證整機架多晶片與熱點的散熱設計,確保整體系統效能穩定。
3. 高功率 TTV 的功率與熱密度可達到多少?
我們的 TTV 可支援:
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單晶片最高 7,500 W (晶片尺寸 60 × 60 mm)
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未來設計可達 10,000–20,000 W
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最高熱密度 1925 W/cm²
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也可以採用高導熱絕緣材料 (如氮化鋁 AlN)做超薄設計。
4. 多區塊 TTV 與傳統測試模組有何不同?
傳統測試晶片TTV多為單一加熱塊,無法模擬晶片內部的局部熱點。多區塊功率 TTV 則能複製晶片實際的 不均勻發熱分佈,更貼近 AI / HPC 晶片的真實情況,協助工程師針對高熱密度區域設計更高效的冷卻解決方案。
5. TTV 如何幫助散熱系統設計與測試?
TTV 可協助:
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真實模擬 晶片發熱行為,在晶片量產前即完成驗證
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加速研發週期,降低冷板、CDU 與浸沒式冷卻方案的開發風險
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避免過熱與降頻,確保系統穩定度
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效能驗證:從單晶片到整櫃級別,進行熱管理效能測試
6. 高功率 TTV 可以客製化嗎?
可以。我們提供以下客製化服務:
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電壓與電流範圍
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功率與熱密度等級
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晶片厚度
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多區塊加熱設計,模擬不同熱點分佈
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符合特定伺服器板卡或插槽的尺寸規格
聯絡我們
透過客製化設計,TTV 能精準滿足不同產業 (晶片設計、伺服器機櫃、資料中心液冷) 的熱驗證需求。
想進一步了解或索取技術規格?歡迎聯絡我們:info@ptc-heater.com.tw
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